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RB-LT1000系列大功率半導體激光芯片器件老化/壽命測試機

驅動電流

0.1--20A

供電要求

210-230V AC 25A/50Hz

溫度控制

TEC+水冷

功率測量

0-20W

光譜測量

350-1100nm或900-1700nm

設備尺寸

1360mm*2100mm*694mm

產品介紹

產品概要：

在可控溫度的工作臺上，對封裝之后（COS、TO56、C-mount、F-mount、CCP、Butter-fly等封裝形式）的半導體激光芯片器件進行。

-對貼片好的大功率COS、C-mount、TO封裝模塊實現長期壽命測試和短期老化測試

-長期壽命測試型：可對100個器件同時做加速壽命測試，對每個器件監(jiān)測光功率和波長

-短期老化型：可對250個器件同時做短期老化測試, 不監(jiān)測光功率和波長

-混合型：業(yè)界首個兼顧長期壽命測試和短期老化測試的設備

-標準電流范圍0-18A （總負載功率比較小的情況下，最大電流可以到30A）

產品特點：

-集成度高（可同時進行100pcs大功率激光芯片的測試）

-實時監(jiān)控和記錄每工位激光芯片的狀態(tài)：激光功率、峰值波長、光譜寬度

-優(yōu)良的內部潔凈環(huán)境（百級-千級）

-良好的安全防護及故障提醒機制

-實時監(jiān)控和記錄設備的工作狀態(tài)：多點位置溫度、冷卻水流量、電源電流&電壓

-友好的人機交互界面，操作簡單，易于使用

-提供脫機老化數據分析的專用軟件

-測試過程中，提供老化測試的停止和重新開啟功能

-可靈活增加、減少激光芯片的數量，每個激光芯片的老化時間獨立累計

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